NEK IEC 63068-1:2019
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Prishistorikk
Perioder
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 25. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 2 468 kr | Kan kjøpes |