NEK IEC 60749-29:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
Prishistorikk
Perioder
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 25. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 2 468 kr | Kan kjøpes |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 25. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 2 468 kr | Kan kjøpes |