NEK IEC 60749-27:2006+A1:2012 CSV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Prishistorikk
Perioder
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 25. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 2 391 kr | Kan kjøpes |