NEK IEC 60749-2:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Prishistorikk
Perioder
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 25. mai 2026 | 25. mai 2026 | Ikke tilgjengelig | 344 kr | Kan kjøpes |
| 25. mai 2026 | 26. mai 2026 | 169 kr | 344 kr | Kan kjøpes |
| 26. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 344 kr | Kan kjøpes |