NEK EN 62047-3:2006
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Prishistorikk
Perioder
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 25. mai 2026 | 25. mai 2026 | Ikke tilgjengelig | 344 kr | Kan kjøpes |
| 25. mai 2026 | Nåværende | 169 kr | 344 kr | Kan kjøpes |