NEK EN 62047-17:2015
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
Prishistorikk
Perioder
| Fra | Til | Abonnement | Engangskjøp | Status |
|---|---|---|---|---|
| 25. mai 2026 | Nåværende | Ikke tilgjengelig | 3 239 kr | Kan kjøpes |