NEK EN 62047-16:2015

Name: NEK EN 62047-16:2015
SKU: NEK-EN-62047-16-2015
Availability: InStock

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films – Wafer curvature and cantilever beam deflection methods

standard.no

Prishistorikk

Perioder

Fra	Til	Abonnement	Engangskjøp	Status
25. mai 2026	25. mai 2026	Ikke tilgjengelig	687 kr	Kan kjøpes
25. mai 2026	Nåværende	338 kr	687 kr	Kan kjøpes