NEK EN 60749-44:2016

Name: NEK EN 60749-44:2016
SKU: NEK-EN-60749-44-2016
Availability: InStock

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

standard.no

Prishistorikk

Perioder

Fra	Til	Abonnement	Engangskjøp	Status
25. mai 2026	25. mai 2026	Ikke tilgjengelig	2 468 kr	Kan kjøpes
25. mai 2026	Nåværende	1 213 kr	2 468 kr	Kan kjøpes